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Wissenschaftliche Abschlussarbeit - Detailansicht

Bereich Mathematik und Naturwissenschaften - Fakultät Physik - Institut für Angewandte Physik - Professur für Experimentalphysik/Photophysik/Nanooptik

Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime
Art der Abschlussarbeit
Dissertation
Autoren
  • Frederik, Kuschewski
Betreuer
  • Prof. Dr. phil. II habil. Lukas Matthias Eng
  • Dr. rer. nat. Susanne Kehr
Zugeordnete Forschungsschwerpunkte
  • Nanooptics
  • IR-Near-field Optics
Schlagwörter
SNOM, THz regime, graphene, FET
Berichtsjahr
2019
Stand: 16.07.2019